- 基本參數(shù)
- 主要功能
- 產(chǎn)品描述
· 實(shí)時(shí)研究顆粒粒徑與粒數(shù)
科學(xué)家將 ParticleTrack 探頭直接插入到過程流體中，以長時(shí)間連續(xù)監(jiān)測顆粒粒徑與粒數(shù)，而無需采樣。 這種獨(dú)特的信息成為有效了解涉及晶體、顆粒和液滴的過程的基礎(chǔ)。
· 將過程與顆粒系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)
借助 ParticleTrack，科學(xué)家可以定期確定過程參數(shù)如何影響顆粒系統(tǒng)。 可以確定過程參數(shù)對生長、結(jié)塊、破損和形狀變化等機(jī)制的影響，從而可以使用基于證據(jù)的方法對過程進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn)。
· 創(chuàng)建符合目的的顆粒系統(tǒng)
科學(xué)家使用 ParticleTrack 來確定如何穩(wěn)定得到所需粒徑和粒數(shù)的顆粒產(chǎn)品。 在研發(fā)、中試到投入生產(chǎn)的過程中，通過選擇較佳的過程參數(shù)，科學(xué)家可以以較低的總成本快速向市場提供高品質(zhì)的顆粒產(chǎn)品。
· 監(jiān)測并糾正過程偏差
ParticleTrack 用于對生產(chǎn)中的既定過程進(jìn)行監(jiān)測、故障排除和改進(jìn)。 可以安全地監(jiān)測難以采樣的復(fù)雜過程，確保一致地生產(chǎn)質(zhì)量盡可能較高的顆粒。
| 標(biāo)準(zhǔn)窗口封條 | Kalrez® |
| 探頭/窗口選件 | 不適用 |
| 額定壓力（探頭） | 10 barg |
| 額定溫度（探頭） | -10至120°C |
| 導(dǎo)管長度 | 15m [49.2ft] |
| 空氣要求 | 掃描儀要求： 最小壓力： 4barg [60psig]; 流量： 28.3 NL/min [1.0SCFM] |
| ParticleTrack型號(hào) | ParticleTrack G600B |
| 物料号 (s) | 14000036 |
采用 FBRM 技術(shù)的 ParticleTrack G600B 是直接插入到實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)器和某些生產(chǎn)過程中的多用途探頭式儀器，以便在全工藝過程濃度下實(shí)時(shí)追蹤顆粒和液滴粒徑及粒數(shù)變化。 隨著實(shí)驗(yàn)條件的變化，持續(xù)監(jiān)測顆粒、顆粒結(jié)構(gòu)和液滴為科學(xué)家提供足夠證據(jù)以獲得具有所需屬性的一致顆粒。
顆粒粒徑與粒數(shù)直接影響多相工藝中的性能，包括結(jié)晶、乳化和絮凝。 通過實(shí)時(shí)監(jiān)測顆粒粒徑與粒數(shù)，科學(xué)家能夠使用基于證據(jù)的方法自信地了解、優(yōu)化和放大實(shí)驗(yàn)過程。
在為離線分析進(jìn)行采樣和制備時(shí)，顆?？赡馨l(fā)生變化。 通過追蹤過程中自然存在的顆粒的粒徑與粒數(shù)的變化，科學(xué)家能夠安全且無延遲地了解工藝過程 – 甚至是在極端溫度與壓力條件下。
隨著實(shí)驗(yàn)參數(shù)的變化，通過連續(xù)監(jiān)測顆粒，能夠較后確定較佳操作條件。 在實(shí)驗(yàn)室和工廠中獲得的證據(jù)可用于確保通過高質(zhì)量的過程提供適合用途的顆粒。
采用 FBRM 技術(shù)的 ParticleTrack G600B 是直接插入到實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)器和某些生產(chǎn)過程中的多用途探頭式儀器，以便在全工藝過程濃度下實(shí)時(shí)追蹤顆粒和液滴粒徑及粒數(shù)變化。 隨著實(shí)驗(yàn)條件的變化，持續(xù)監(jiān)測顆粒、顆粒結(jié)構(gòu)和液滴為科學(xué)家提供足夠證據(jù)以獲得具有所需屬性的一致顆粒。
顆粒粒徑與粒數(shù)直接影響多相工藝中的性能，包括結(jié)晶、乳化和絮凝。 通過實(shí)時(shí)監(jiān)測顆粒粒徑與粒數(shù)，科學(xué)家能夠使用基于證據(jù)的方法自信地了解、優(yōu)化和放大實(shí)驗(yàn)過程。
在為離線分析進(jìn)行采樣和制備時(shí)，顆粒可能發(fā)生變化。 通過追蹤過程中自然存在的顆粒的粒徑與粒數(shù)的變化，科學(xué)家能夠安全且無延遲地了解工藝過程 – 甚至是在極端溫度與壓力條件下。
隨著實(shí)驗(yàn)參數(shù)的變化，通過連續(xù)監(jiān)測顆粒，能夠較后確定較佳操作條件。 在實(shí)驗(yàn)室和工廠中獲得的證據(jù)可用于確保通過高質(zhì)量的過程提供適合用途的顆粒。
